賽默飛世爾科技（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“賽默飛”）是全球領(lǐng)先的科學(xué)儀器、試劑和服務(wù)供應(yīng)商之一，致力于為客戶(hù)提供領(lǐng)先的創(chuàng)新技術(shù)、便捷采購(gòu)方案和全方位服務(wù)。全球員工超過(guò)13萬(wàn)人，年銷(xiāo)售額約400億美元。

賽默飛始終致力于推動(dòng)科學(xué)儀器發(fā)展。在全球戰(zhàn)略的引領(lǐng)下，賽默飛于2016年完成了對(duì)FEI掃描電鏡產(chǎn)線(xiàn)的收購(gòu)，以提升公司產(chǎn)品組合的競(jìng)爭(zhēng)力。并且，賽默飛充分利用自身的全球規(guī)模和商業(yè)化模式，使得FEI電鏡產(chǎn)品在廣大的客戶(hù)群體中得到推廣，對(duì)推進(jìn)電鏡技術(shù)在生物、材料等領(lǐng)域的應(yīng)用發(fā)展意義重大。

賽默飛一向注重技術(shù)創(chuàng)新，在完成FEI電鏡業(yè)務(wù)的收購(gòu)之后，賽默飛對(duì)電子光學(xué)、精密機(jī)械、電子電路、軟件和真空系統(tǒng)等關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了整合。對(duì)掃描電鏡進(jìn)行了技術(shù)升級(jí)，在產(chǎn)品類(lèi)型上，推陳出新，引領(lǐng)全球掃描電鏡的發(fā)展潮流，進(jìn)一步鞏固了作為全球掃描電鏡領(lǐng)域領(lǐng)跑者的地位。

賽默飛掃描電子顯微鏡（原FEI ）

自20世紀(jì)30年代電子顯微鏡面世以來(lái)，SEM掃描電鏡已成為諸多行業(yè)科研及生產(chǎn)工作中的必備工具，其應(yīng)用范圍覆蓋材料科學(xué)、基礎(chǔ)科研、工業(yè)生產(chǎn)等各個(gè)領(lǐng)域。在涉及樣品表面或近表面區(qū)域的形貌、成分和結(jié)構(gòu)信息的工作中，SEM掃描電鏡就是技術(shù)人員提升工作效率、攻克項(xiàng)目難題的得力助手。

賽默飛掃描電鏡具有高度的靈活性和智能的操作系統(tǒng)，配置完善，包含多種檢測(cè)器、附件，可以滿(mǎn)足廣泛的研究和工業(yè)檢測(cè)需求。無(wú)論檢測(cè)的樣品是何種尺寸、重量，導(dǎo)電性如何，賽默飛掃描電鏡都可以幫助實(shí)驗(yàn)人員輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，快速獲得出色的圖像和分析結(jié)果。

賽默掃描電子顯微鏡發(fā)展歷程

當(dāng)我們談到賽默飛電鏡，就不得不提及飛利浦和FEI。

最初的FEI公司由L.W. Swanson博士, N.A. Martin先生，L. Swenson先生和J. Orloff博士于1971年創(chuàng)建。1997年，F(xiàn)EI公司與荷蘭皇家飛利浦公司電子光學(xué)部合并。2016年，賽默飛世爾科技收購(gòu)原FEI電鏡，成立賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析（MSD) 電鏡事業(yè)部。接下來(lái)給大家介紹一下關(guān)于飛利浦和FEI的故事。

飛利浦電子光學(xué)發(fā)展歷程

·1949年 Philips Electron Optics（飛利浦電子光學(xué)）成立，發(fā)布了全球第一臺(tái)商用TEM。

·1958年 飛利浦電子光學(xué)推出的EM200突破了10Å的TEM分辨率。

·1966年 飛利浦電子光學(xué)交付固態(tài)分辨率5Å的TEM。

·1975年 飛利浦電子光學(xué)推出EM400 TEM，成為現(xiàn)代透射電鏡發(fā)展的基礎(chǔ)。

·1977年 飛利浦電子光學(xué)發(fā)布全球第一臺(tái)場(chǎng)發(fā)射TEM。出臺(tái)高分辨率SEM。

·1986年 飛利浦電子光學(xué)推出計(jì)算機(jī)控制TEM系統(tǒng)。

·1990年 飛利浦電子光學(xué)發(fā)布全球第一臺(tái)PC控制的掃描電鏡XL系列。

·1996年飛利浦電子光學(xué)收購(gòu)ElectroScan及環(huán)境掃描電鏡（ESEM）技術(shù)。飛利浦電子光學(xué)收購(gòu)位于捷克共和國(guó)布爾諾的Delmi公司。

FEI發(fā)展歷程

·1971年 FEI成立，主要生產(chǎn)聚焦離子束產(chǎn)品，并致力于提供用于場(chǎng)發(fā)射電子槍的高純度、定向單晶體材料。

·1981年 FEI研制出液體金屬離子源（LMI）。

·1982年 FEI第一個(gè)LMI聚焦離子束鏡筒交付使用。

·1983年 FEI第一個(gè)靜電場(chǎng)聚焦離子束鏡筒交付使用。Micrion成立，它專(zhuān)注于研制用于光罩修補(bǔ)的離子束系統(tǒng)。

·1985年 Micrion第一臺(tái)聚焦離子束系統(tǒng)交付使用。

·1989年 ElectroScan推出全球第一臺(tái)環(huán)境掃描電鏡（ESEM）。FEI第一臺(tái)完整的聚焦離子束（FIB）工作站交付使用。

·1993年 交付一體化集成TecnaiTM TEM。FEI同飛利浦電子光學(xué)聯(lián)合發(fā)布第一臺(tái)雙束DualBeamTM（FIB/SEM）工作站。

·1996年 FEI交付第5000只LMI源。

強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合，領(lǐng)銜世界

·1997年 FEI與飛利浦電子光學(xué)合并為現(xiàn)今的FEI公司。交付第一臺(tái)嵌入式晶圓制程DualBeamTM系統(tǒng)。

·1998年 發(fā)布PC控制的一體化集成TEM（TecnaiTM）。推出全球第一臺(tái)應(yīng)用于自動(dòng)缺陷分析檢測(cè)的DualBeamTM。

·1999年 FEI兼并Micrion（聚焦離子束產(chǎn)品）。

·2000年 推出第一臺(tái)小樣品DualBeamTM系統(tǒng)。

· 2001年 推出實(shí)驗(yàn)室專(zhuān)用DualBeamTM系統(tǒng)。發(fā)布第一臺(tái)配有單色器的TEM。

·2004年 使用配有單色器和球差矯正器的透射電鏡200KV TecnaiTM，突破了透射電鏡分辨率1Å的極限。

·2005年 推出全球功能最強(qiáng)大的商用透射電鏡TitanTM 80-300KV（S/TEM），其分辨率可達(dá)亞埃級(jí)。

·2006年 第一臺(tái)美國(guó)能源部專(zhuān)用帶像差矯正透射電鏡（TEAM）交付，分辨率達(dá)到0.5Å。

·2008年 發(fā)布一款極高分辨率的掃描電鏡Magellan XHR,其在低束流（低射束能量）模式下可達(dá)亞納米級(jí)分辨率。

·2016年 賽默飛世爾科技收購(gòu)原FEI電鏡，成立賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析（MSD) 電鏡事業(yè)部，是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應(yīng)商。

賦能科技，開(kāi)創(chuàng)未來(lái)

賽默飛掃描電鏡作為賦能科技進(jìn)步的全球領(lǐng)導(dǎo)者，始終致力于把全球領(lǐng)先的科學(xué)技術(shù)與創(chuàng)新成果融入到本土化的實(shí)踐中，進(jìn)一步加強(qiáng)本土人才培養(yǎng)與產(chǎn)業(yè)生態(tài)建設(shè)的同時(shí)，依托自身的全球化能力，賦能更多本土合作伙伴走向全球，攜手全社會(huì)共同建設(shè)一個(gè)更健康、更清潔和更安全的中國(guó)。

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